Tinti, G., Marchetto, H., Vaz, C. A. F., Kleibert, A., Andrä, M., Barten, R., Bergamaschi, A., Brückner, M., Cartier, S.,
Dinapoli, R., Franz, T., Fröjdh, E., Greiffenberg, D., Lopez-Cuenca, C., Mezza, D., Mozzanica, A., Nolting, F., Ramilli, M.,
Redford, S., Ruat, M., Ruder, C., Schädler, L., Schmidt, T., Schmitt, B., Schütz, F., Shi, X., Thattil, D., Vetter, S., &
Zhang, J. (2017). The EIGER detector for low-energy electron microscopy and photoemission
electron microscopy. Journal of Synchrotron Radiation, 24(5),
963-974. doi:10.1107/S1600577517009109.