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Konferenzbeitrag

Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy

MPG-Autoren
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Hieke,  Stefan Werner
Nanoanalytics and Interfaces, Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Dehm,  Gerhard
Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76047

Scheu,  Christina
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Hieke, S. W., Dehm, G., & Scheu, C. (2016). Investigation of solid state dewetting phenomena of epitaxial Al thin films on sapphire using electron microscopy. In European Microscopy Congress 2016: Proceedings (pp. 203-204). Wiley-VCH Verlag GmbH & Co KGaA. doi:10.1002/9783527808465.EMC2016.5892.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-059D-1
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