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Zeitschriftenartikel

Characterization of thin film displacements in the electron microscope

MPG-Autoren
/persons/resource/persons126811

Ramlau,  Reiner
Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society;

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Zitation

Sawada, H., Ramlau, R., Allen, C. S., & Kirkland, A. I. (2017). Characterization of thin film displacements in the electron microscope. Applied Physics Letters, 111(20): 203104, pp. 1-5. doi:10.1063/1.4999003.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002E-55EE-6
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