Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter 
negativer Ionenquellen (H-/D-)

Riegg, S.; Fantz, U.

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Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter negativer Ionenquellen (H^-/D^-)

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Fantz, U.
Tokamak Edge and Divertor Physics (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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Riegg, S., & Fantz, U. (2005). Anwendung spektroskopischer Methoden zur Charakterisierung HF-angeregter negativer Ionenquellen (H^-/D^-). Talk presented at Physik seit Einstein - 69. Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) mit allen Fachverbänden und der Astronomischen Gesellschaft (AG). Berlin. 2005-03-04 - 2005-03-09.

Cite as: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-0E8A-6

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