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Zeitschriftenartikel

Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces

MPG-Autoren
/persons/resource/persons76047

Scheu,  Christina
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75388

Dehm,  Gerhard
Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons75873

Müllejans,  Harald
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

/persons/resource/persons76016

Rühle,  Manfred
Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society;

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Zitation

Scheu, C., Dehm, G., Müllejans, H., & Rühle, M. (1996). Electron Energy-Loss Spectroscopy at Cu/Al2O3 and Ti/Al2O3 Interfaces. Materials Science Forum, 207-209(1), 181-184. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.207-209.181.


Zitierlink: http://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-9530-0
Zusammenfassung
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