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Vortrag

Detection of trace impurities and other defects in functional nanomaterials

MPG-Autoren
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Lim,  Joohyun
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Kim,  Se-Ho
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Sahu,  Rajib
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons243143

Aymerich Armengol,  Raquel
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Kasian,  Olga
Electrocatalysis, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Stephenson,  Leigh
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Gault,  Baptiste
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Scheu,  Christina
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Lim, J., Kim, S.-H., Sahu, R., Aymerich Armengol, R., Kasian, O., Choi, P.-P., et al. (2019). Detection of trace impurities and other defects in functional nanomaterials. Talk presented at International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices, IAMNano 2019. Düsseldorf, Germany. 2019-10-27 - 2019-10-30.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-469D-C
Zusammenfassung
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