Lock-in thermography for analyzing solar cells and failure analysis in other 
electronic components

Breitenstein, Otwin; Sturm, Steffen

doi:10.1080/17686733.2018.1563349

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Lock-in thermography for analyzing solar cells and failure analysis in other electronic components

MPG-Autoren

Breitenstein, Otwin
Nano-Systems from Ions, Spins and Electrons, Max Planck Institute of Microstructure Physics, Max Planck Society;

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https://doi.org/10.1080/17686733.2018.1563349
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Zitation

Breitenstein, O., & Sturm, S. (2019). Lock-in thermography for analyzing solar cells and failure analysis in other electronic components. Quantitative InfraRed Thermography Journal, 16(3-4), 1-15. doi:10.1080/17686733.2018.1563349.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0009-0CE5-8

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