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Patent

Verfahren und Beleuchtungsvorrichtung der adaptiven Optik in der Reflexionsmikroskopie

MPG-Autoren
/persons/resource/persons188171

Seelig,  Johannes D.       
Max Planck Research Group Neural Circuits, Max Planck Institute for Neurobiology of Behavior – caesar, Max Planck Society;

/persons/resource/persons250112

Vishniakou,  Ivan
Max Planck Research Group Neural Circuits, Max Planck Institute for Neurobiology of Behavior – caesar, Max Planck Society;

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Zitation

Seelig, J. D., Vishniakou, I., & Max Planck Society(2022). Verfahren und Beleuchtungsvorrichtung der adaptiven Optik in der Reflexionsmikroskopie.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000C-1164-0
Zusammenfassung
Verfahren und Beleuchtungs- und Detektionsvorrichtung zum Optimieren von Parametern eines physikalischen Lichtausbreitungs-Modells, insbesondere eines Lichtausbreitungs-Modells bei der Laser-Mikroskopie im Rasterverfahren, umfassend die folgenden Schritte: a) Vorhalten eines physikalischen Modells MLi cht der Lichtausbreitung in einem optischen System, insbesondere der Lichtausbreitung in einem Mikroskop; b) Einstrahlen einer Eingangs-Lichtverteilung Io mit einer Beleuchtungseinheit in einen Anregungspfad des optischen Systems; c) Durchqueren der Lichtverteilung Io durch einen Streukörper (A), wobei der Streukörper (A) in dem Anregungspfad des optischen Systems platziert ist und die Eingangs-Lichtverteilung Io zu einer Reflexions-Lichtverteilung (IRE) abändert; d) Aufzeichnen der Reflexions-Lichtverteilung (IRE) oder Transmissions-Lichtverteilung (ITR); e) Übergabe der aufgezeichneten Reflexions-Lichtverteilung (IRE) an das Modell (MLicht); f) Berechnung von Verzerrungsparametern (V) des Modells (MLicht) basierend auf der Reflexions-Lichtverteilung (IRE), wobei die Verzerrungsparameter (V) insbesondere den Streukörper (A) charakterisieren, wobei die Reflexions-Lichtverteilung (IRE) zumindest teilweise als Fluoreszenz-Strahlung von einem fluoreszenzfähigen Körper innerhalb des Streukörpers reflektiert wird.
A method and an illumination and detection apparatus for optimizing parameters of a physical light propagation model, in particular of a light propagation model in laser microscopy using the scanning method, comprising the following steps: a) keeping available a physical model MLicht of the light propagation in an optical system, in particular of the light propagation in a microscope; b) radiating an input light distribution Io into an excitation path of the optical system by means of an illumination unit; c) passing of the light distribution Io through a scattering body (A), the scattering body (A) being positioned in the excitation path of the optical system and modifying the input light distribution Io to form a reflection light distribution (IRE); d) recording the reflection light distribution (IRE) or transmission light distribution (ITR); e) transferring the recorded reflection light distribution (IRE) to the model (MLight); f) calculating distortion parameters (V) of the model (MLight) on the basis of the reflection light distribution (IRE), the distortion parameters (V) characterizing in particular the scattering body (A), the reflection light distribution (IRE) being at least partly reflected as fluorescence radiation by a body capable of fluorescence within the scattering body.
L'invention concerne un procédé et un dispositif d'éclairage et de détection pour optimiser des paramètres d'un modèle physique de propagation de lumière, en particulier d'un modèle de propagation de lumière en microscopie laser lors d'un procédé de balayage, qui comprend les étapes consistant à : a) mettre à disposition un modèle physique de la propagation de lumière dans un système optique, en particulier de la propagation de lumière dans un microscope ; b) projeter une répartition de lumière d'entrée (Io) dans une voie d'excitation du système optique au moyen d'une unité d'éclairage ; c) faire passer la répartition de lumière (Io) à travers un corps de diffusion (A), le corps de diffusion (A) étant placé dans la voie d'excitation du système optique et modifiant la répartition de lumière d'entrée (Io) pour former une répartition de lumière de réflexion (IRE) ; d) enregistrer la répartition de lumière de réflexion (IRE ou la répartition de lumière de transmission (ITR) ; e) transférer la répartition de lumière de réflexion enregistrée (IRE) au modèle (MLumière) ; f) calculer des paramètres de distorsion (V) du modèle (MLumière) sur la base de la répartition de la lumière de réflexion (IRE), les paramètres de distorsion (V) caractérisant en particulier le corps de diffusion (A), la répartition de la lumière de réflexion (IRE) étant réfléchie au moins partiellement sous la forme d'un rayonnement de fluorescence par un corps pouvant produire une fluorescence à l'intérieur du corps de diffusion.