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Zeitschriftenartikel

A double lamellae dropoff etching procedure for tungsten tips attached to tuning fork atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy sensors

MPG-Autoren
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Kulawik,  Maria
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

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Nowicki,  Marek
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

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Thielsch,  Gero
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

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Cramer,  Ludger
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons22034

Rust,  Hans-Peter
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons21524

Freund,  Hans-Joachim
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

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Zitation

Kulawik, M., Nowicki, M., Thielsch, G., Cramer, L., Rust, H.-P., Freund, H.-J., et al. (2003). A double lamellae dropoff etching procedure for tungsten tips attached to tuning fork atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy sensors. Review of Scientific Instruments, 74(2), 1027-1030. doi:10.1063/1.1532833.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-126D-4
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