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Poster

TEM and EELS characterisation of ZrO2 thin films obtained by self-assembled monolayer-mediated deposition

MPG-Autoren
/persons/resource/persons22015

Roddatis,  Vladimir V.
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons22148

Su,  Dang Sheng
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons21343

Beckmann,  Erich
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons21673

Jentoft,  Friederike C.
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons21511

Fischer,  Armin
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons21766

Kröhnert,  Jutta
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

/persons/resource/persons22071

Schlögl,  Robert
Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

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roddatis_autumnschoolberlin_2000.pdf
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Zitation

Roddatis, V. V., Su, D. S., Beckmann, E., Jentoft, F. C., Fischer, A., Kröhnert, J., et al. (2000). TEM and EELS characterisation of ZrO2 thin films obtained by self-assembled monolayer-mediated deposition. Poster presented at Autumn School on Materials Science and Electron Microscopy 2000, Berlin, Germany.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0011-1A92-A
Zusammenfassung
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