Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001): an 
in-situ spectro-microscopy study

Klemm, Hagen

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT

Zur Ablage hinzufügen

Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht

Freigegeben

Hochschulschrift

Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001): an in-situ spectro-microscopy study

MPG-Autoren

/persons/resource/persons32777

Klemm, Hagen
Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society;

Externe Ressourcen

Es sind keine externen Ressourcen hinterlegt

Volltexte (beschränkter Zugriff)

Für Ihren IP-Bereich sind aktuell keine Volltexte freigegeben.

Volltexte (frei zugänglich)

klemm_hagen.pdf
(beliebiger Volltext), 42MB

Ergänzendes Material (frei zugänglich)

Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar

Zitation

Klemm, H. (2018). Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001): an in-situ spectro-microscopy study. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-C1D3-7

Zusammenfassung

Es ist keine Zusammenfassung verfügbar