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Zeitschriftenartikel

Electrostatic contribution to twist rigidity of DNA

MPG-Autoren
/persons/resource/persons219873

Golestanian,  R.       
Department of Living Matter Physics, Max Planck Institute for Dynamics and Self-Organization, Max Planck Society;

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Zitation

Mohammad-Rafiee, F., & Golestanian, R. (2004). Electrostatic contribution to twist rigidity of DNA. Physical Review E - Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics, 69(6): 061919. doi:10.1103/PhysRevE.69.061919.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-AD45-F
Zusammenfassung
A model to study the effect of electrostatic interaction on the twist rigidity of DNA was discussed. It was found that the electrostatic twist rigidity of DNA was Celec ≈ 5 nm which make up to 7 of total rigidity. The electrostatic rigidity depended only weakly on the salt concentration due to competition between Debye screening and structural screening. Analysis shows that depending on parameters, the electrostatic contribution to the twist rigidity could stabilize or destabilize the structural of a helical polyelectrolyte.