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Vortrag

Comprehensive, 5-parameter crystallographic grain boundary characterization and its application to thin-film CdTe solar cells

MPG-Autoren
/persons/resource/persons125228

Konijnenberg,  Peter Joachim
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons136410

Stechmann,  Guillaume
Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

/persons/resource/persons125491

Zaefferer,  Stefan
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Konijnenberg, P. J., Stechmann, G., & Zaefferer, S. (2013). Comprehensive, 5-parameter crystallographic grain boundary characterization and its application to thin-film CdTe solar cells. Talk presented at IDSC 2013. Düsseldorf, Germany. 2013.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-F260-A
Zusammenfassung
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