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Vortrag

A scale bridging approach for analysis of extended defects in thermoelectric materials: From electron channeling contrast imaging, scanning transmission electron microscopy to atom probe tomography

MPG-Autoren
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Scheu,  Christina
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Abdellaoui,  Lamya
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Bueno Villoro,  Ruben
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Gault,  Baptiste
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Luo,  Ting
Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Jung,  Chanwon
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zaefferer,  Stefan
Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zhang,  Siyuan
Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society;

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Zitation

Scheu, C., Abdellaoui, L., Bueno Villoro, R., Cojocaru-Mirédin, O., Gault, B., Luo, T., et al. (2022). A scale bridging approach for analysis of extended defects in thermoelectric materials: From electron channeling contrast imaging, scanning transmission electron microscopy to atom probe tomography. Talk presented at ELMINA2022. Belgrade, Serbia. 2022-08-22 - 2022-08-26.


Zitierlink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-000F-EC44-B
Zusammenfassung
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