3D Reconstruction of Identical Location Electron Micrographs – Methodology and 
Pitfalls

Gänsler, Thomas; Hengge, Katharina Anna; Scheu, Christina

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3D Reconstruction of Identical Location Electron Micrographs – Methodology and Pitfalls

Gänsler, T., Hengge, K. A., & Scheu, C. (2019). 3D Reconstruction of Identical Location Electron Micrographs – Methodology and Pitfalls. Poster presented at IAMNano 2019, International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices, Düsseldorf, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-6F28-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-6F29-2

資料種別: ポスター

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Gänsler, Thomas¹, 著者
Hengge, Katharina Anna¹, 著者
Scheu, Christina¹, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294

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言語: eng - English

日付: 作成: 2019-10

出版の状態: 不明

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