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  In situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale

Kečkéš, J., Eiper, E., Martinschitz, K. J., Boesecke, P., Gindl, W., & Dehm, G. (2006). In situ X-ray Diffraction as a tool to probe mechanical phenomena down to the nano-scale. Advanced Engineering Materials, 8(11), 1084-1088. doi:10.1002/adem.200600156.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-570A-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-570B-9
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Kečkéš, Jozef1, 著者           
Eiper, Ernst2, 著者           
Martinschitz, Klaus J.3, 著者           
Boesecke, Peter4, 著者           
Gindl, Wolfgang5, 著者           
Dehm, Gerhard1, 著者           
所属:
1Erich Schmid Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Erich Schmid Institute of Materials Science, Leoben, Austria, ou_persistent22              
3Erich-Schmid-Institut für Materialwissenschaft, Österreichische Akademie der Wissenschaften, Montanuniversität Leoben, Jahnstrasse 12, A-8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              
46 rue Jules Horowitz, F-38043 Grenoble, France, ou_persistent22              
5Institut für Holzforschung, Universität für Bodenkultur, Peter Jordan Strasse 82, A-1190 Wien, Austria, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2006-11
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1002/adem.200600156
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Advanced Engineering Materials
  省略形 : Adv. Eng. Mater.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Weinheim : WILEY-VCH Verlag
ページ: - 巻号: 8 (11) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1084 - 1088 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1438-1656
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/958634688014