Grundlagen und Anwendung einer neuen höhenregulierten Raster-Kelvin-Sonde für 
die Korrosionsforschung und Haftung auf Oberflächen

Grundmeier, G.

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Grundlagen und Anwendung einer neuen höhenregulierten Raster-Kelvin-Sonde für die Korrosionsforschung und Haftung auf Oberflächen

Grundmeier, G. (2004). Grundlagen und Anwendung einer neuen höhenregulierten Raster-Kelvin-Sonde für die Korrosionsforschung und Haftung auf Oberflächen. Talk presented at 79. AGEF-Symposium, 25 Jahre Elektrochemie in Düsseldorf, Heinrich-Heine-Universität. Düsseldorf, Germany. 2004-11-18 - 2004-11-19.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-6339-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-633B-3

Genre: Vortrag

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Urheber:
Grundmeier, G.^{1, 2}, Autor

Affiliations:
1Adhesion and Thin Films, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863349
2Christian Doppler Laboratory for Metal/Polymer Interfaces, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863353