Scanning microfocus small-angle X-ray scattering: A new tool to investigate 
defects at polymer-polymer interfaces

Lorenz-Haas, C.; Müller-Buschbaum, P.; Wunnicke, O.; Cassignol, C.; Burghammer, M.; Riekel, C.; Stamm, Manfred

doi:10.1021/la026693+

Scanning microfocus small-angle X-ray scattering: A new tool to investigate defects at polymer-polymer interfaces

Lorenz-Haas, C., Müller-Buschbaum, P., Wunnicke, O., Cassignol, C., Burghammer, M., Riekel, C., & Stamm, M. (2003). Scanning microfocus small-angle X-ray scattering: A new tool to investigate defects at polymer-polymer interfaces. Langmuir, 19(7), 3056-3061. doi:10.1021/la026693+.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-6234-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-18F5-F

資料種別: 学術論文

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Lorenz-Haas, C.¹, 著者
Müller-Buschbaum, P., 著者
Wunnicke, O., 著者
Cassignol, C.¹, 著者
Burghammer, M., 著者
Riekel, C., 著者
Stamm, Manfred², 著者

所属:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545
2Inst Polymerforsch Dresden EV, D-01069 Dresden, Germany, ou_persistent22

内容説明

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言語: eng - English

日付: 出版: 2003-04-01

出版の状態: 出版

ページ: -

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査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 28375
ISI: 000181980900074
その他: P-03-293
DOI: 10.1021/la026693+

学位: -

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出版物名: Langmuir

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: Columbus, OH : American Chemical Society

ページ: - 巻号: 19 (7) 通巻号: - 開始・終了ページ: 3056 - 3061 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0743-7463
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925541194

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