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  Scanning microfocus small-angle X-ray scattering: A new tool to investigate defects at polymer-polymer interfaces

Lorenz-Haas, C., Müller-Buschbaum, P., Wunnicke, O., Cassignol, C., Burghammer, M., Riekel, C., et al. (2003). Scanning microfocus small-angle X-ray scattering: A new tool to investigate defects at polymer-polymer interfaces. Langmuir, 19(7), 3056-3061. doi:10.1021/la026693+.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-000F-6234-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-18F5-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Lorenz-Haas, C.1, Autor           
Müller-Buschbaum, P., Autor
Wunnicke, O., Autor
Cassignol, C.1, Autor           
Burghammer, M., Autor
Riekel, C., Autor
Stamm, Manfred2, Autor           
Affiliations:
1MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1309545              
2Inst Polymerforsch Dresden EV, D-01069 Dresden, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003-04-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 28375
ISI: 000181980900074
Anderer: P-03-293
DOI: 10.1021/la026693+
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Langmuir
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Columbus, OH : American Chemical Society
Seiten: - Band / Heft: 19 (7) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 3056 - 3061 Identifikator: ISSN: 0743-7463
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925541194