A new approach to understanding electromigration in Al(Cu) alloys on an 
atomistic basis

Schmidt, C.; Dekker, J. P.; Gumbsch, P.; Arzt, E.

A new approach to understanding electromigration in Al(Cu) alloys on an atomistic basis

Schmidt, C., Dekker, J. P., Gumbsch, P., & Arzt, E. (2001). A new approach to understanding electromigration in Al(Cu) alloys on an atomistic basis. In Y., Limoge (Ed.), Proceedings of DIMAT 2000, the Fifth International Conference on Diffusion in Materials (pp. 151-156). Uetikon-Zürich: Scitec Publications Ltd.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-35EB-E 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-35EC-C

資料種別: 会議論文

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Schmidt, C., 著者
Dekker, J. P., 著者
Gumbsch, P.¹, 著者
Arzt, E.^{1, 2}, 著者

所属:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655
2Universität Stuttgart, Institut für Metallkunde, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt; atomistic simulation; electromigration; phenomenological equations; solute diffusion in Al(Cu)-alloys

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 2001

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 21834
ISI: 000171690100024

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of DIMAT 2000, the Fifth International Conference on Diffusion in Materials

種別: 会議論文集

著者・編者:
Limoge, Y., 編集者

所属:
-

出版社, 出版地: Uetikon-Zürich : Scitec Publications Ltd.

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 151 - 156 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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出版物名: Defect and Diffusion Forum

種別: 連載記事

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 194/199 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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