Molecular heterojunction morphology on rough substrate surfaces: component 
separation by Fourier subtraction

Turak, A.; Heidkamp, J.; Dosch, H.

doi:10.1088/0957-4484/28/285705

Molecular heterojunction morphology on rough substrate surfaces: component separation by Fourier subtraction

Turak, A., Heidkamp, J., & Dosch, H. (2010). Molecular heterojunction morphology on rough substrate surfaces: component separation by Fourier subtraction. Nanotechnology, 21(28):. doi:10.1088/0957-4484/28/285705.

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資料種別: 学術論文

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Turak, A.¹, 著者
Heidkamp, J.², 著者
Dosch, H.^{2, 3}, 著者

所属:
1Max Planck Society, ou_persistent13
2Dept. Metastable and Low-Dimensional Materials, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497645
3Universität Stuttgart, Institut für Theoretische und Angewandte Physik, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Abt. Dosch/Rühle;

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010-06-28

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 479773
DOI: 10.1088/0957-4484/28/285705

学位: -

訴訟

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出版物名: Nanotechnology

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 21 (28) 通巻号: 285705 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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