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  Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum

Łaszcz, A., Ratajczak, J., Czerwinski, A., Kątcki, J., Srot, V., Phillipp, F., et al. (2010). Characterization of ytterbium silicide formed in ultra high vacuum. Journal of Physics: Conference Series, 209: 012056.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B75-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-3B76-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Łaszcz, A.1, Autor
Ratajczak, J.1, Autor
Czerwinski, A.1, Autor
Kątcki, J.1, Autor
Srot, V.2, Autor           
Phillipp, F.2, Autor           
van Aken, P. A.2, Autor           
Yarekha, D.1, Autor
Reckinger, N.1, Autor
Larrieu, G.1, Autor
Dubois, E.1, Autor
Affiliations:
1Institute of Electron Technology, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland;IEMN/ISEN, UMRS CNRS 8520, Avenue Poincare, Cite Scientifique, BP 69, 59652 Villeneuve d’Ascq Cedex, France;Université catholique de Louvain, Place du Levant 3, B-1348 Louvain-la-Neuve, Belgium., ou_persistent22              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 466661
DOI: 10.1088/1742-6596/209/1/012056
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 16th International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials
Veranstaltungsort: Oxford, United Kingdom
Start-/Enddatum: 2009-03-17 - 2009-03-20

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Physics: Conference Series
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 209 Artikelnummer: 012056 Start- / Endseite: - Identifikator: -