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  Preparation of SiC/SiC thin foils for TEM observations by wedge polishing method

Gec, M., Toplišek, T., Srot, V., Dražić, G., Kobe, S., van Aken, P. A., & Čeh, M. (2008). Preparation of SiC/SiC thin foils for TEM observations by wedge polishing method. In M., Luysberg, K., Tillmann, & T., Weirich (Eds.), EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 1: Instrumentation and Methods (pp. 817-818). Berlin [et al.]: Springer.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40F4-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-40F5-1
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
Gec, M.1, 著者
Toplišek, T.1, 著者
Srot, V.2, 3, 著者           
Dražić, G.1, 著者
Kobe, S.1, 著者
van Aken, P. A.3, 著者           
Čeh, M.1, 著者
所属:
1Nanostructured Materials, Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia, ou_persistent22              
2Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
3Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

内容説明

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キーワード: MPI für Intelligente Systeme; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2008
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり（内部）
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 376643
DOI: 10.1007/978-3-540-85226-1_409
 学位: -

関連イベント

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イベント名: 14th European Microscopy Congress
開催地: Aachen, Germany
開始日・終了日: 2008-09-01 - 2008-09-05

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: EMC2008, 14th European Microscopy Congress, Vol. 1: Instrumentation and Methods
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Luysberg, M., 編集者
Tillmann, K., 編集者
Weirich, T., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: Berlin [et al.] : Springer
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 817 - 818 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -