Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the 
exit face wave function from through focal series images

Bhattacharyya, S.; Koch, C. T.; Rühle, M.

Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images

Bhattacharyya, S., Koch, C. T., & Rühle, M. (2006). Measuring projected potential profiles across interfaces by reconstructing the exit face wave function from through focal series images. In Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006 (pp. 1138-1138). International Federation of Societies in Microscopy.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4894-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-4895-4

資料種別: 会議論文

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Bhattacharyya, S., 著者
Koch, C. T.¹, 著者
Rühle, M.², 著者

所属:
1Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669
2Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, DE, ou_1497650

内容説明

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キーワード: MPI für Metallforschung; Emeriti and Others; Stuttgart Center for Electron Microscopy (StEM);

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2006

出版の状態: 出版

ページ: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 319004

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 16th International Microscopy Congress 2006

種別: 会議論文集

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出版社, 出版地: International Federation of Societies in Microscopy

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 1138 - 1138 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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