Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Determining thermodynamic and structural parameters of thin amorphous intergranular films by electron diffraction

Koch, C. T., Bhattacharyya, S., Subramaniam, A., & Rühle, M. (2004). Determining thermodynamic and structural parameters of thin amorphous intergranular films by electron diffraction. In Proceedings of the 13th European Microscopy Congress, Vol. 2 (pp. 37-38). Belgian Society for Microscopy.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49A8-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-49A9-0
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Koch, C. T.1, 2, Autor           
Bhattacharyya, S.1, Autor           
Subramaniam, A.1, Autor           
Rühle, M.1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Microstructure Interfaces, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497657              
2Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497669              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Ehemalige Abt. Rühle; Stuttgart Center for Electron Microscopy
 Zusammenfassung: -

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 288647
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: 13th European Microscopy Congress
Veranstaltungsort: Antwerpen [Belgium]
Start-/Enddatum: 2004-08-22 - 2004-08-27

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Proceedings of the 13th European Microscopy Congress, Vol. 2
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Belgian Society for Microscopy
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 37 - 38 Identifikator: -