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  Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical microscopy

Knoll, B., & Keilmann, F. (2000). Enhanced dielectric contrast in scattering-type scanning near-field optical microscopy. Optics Communications, 182(4-6), 321-328.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-717F-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0010-7180-4
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Knoll, B., Autor
Keilmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Resolution; Microwave; Diode.; Applied Physics/Condensed Matter/Materials Science in Current Contents(R)/Physical, Chemical & Earth Sciences. Optics & Acoustics in Current Contents(R)/Engineering, Computing & Technology.
 Zusammenfassung: Ovid-processing week 38/00

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2000
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 318309
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optics Communications
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 182 (4-6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 321 - 328 Identifikator: -