Fabrication and characterization of semiconducting half-Heusler YPtSb thin films

Shan, R.; Vilanova, E. V.; Qin, J.; Casper, F.; Fecher, G. H.; Jakob, G.; Felser, C.

doi:10.1002/pssr.201206413

Fabrication and characterization of semiconducting half-Heusler YPtSb thin films

Shan, R., Vilanova, E. V., Qin, J., Casper, F., Fecher, G. H., Jakob, G., & Felser, C. (2013). Fabrication and characterization of semiconducting half-Heusler YPtSb thin films. Physica Status Solidi RRL, 7(1-2), 145-147. doi:10.1002/pssr.201206413.

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資料種別: 学術論文

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Shan, R., 著者
Vilanova, E. V., 著者
Qin, J., 著者
Casper, F., 著者
Fecher, G. H.¹, 著者
Jakob, G., 著者
Felser, C.², 著者

所属:
1Gerhard Fecher, Inorganic Chemistry, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863431
2Claudia Felser, Inorganic Chemistry, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863429

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言語: eng - English

日付: 出版: 2013-02-01

出版の状態: 出版

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 636520
DOI: 10.1002/pssr.201206413

学位: -

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出版物名: Physica Status Solidi RRL

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 7 (1-2) 通巻号: - 開始・終了ページ: 145 - 147 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1862-6254

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