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  Numerical analysis of x-ray reflectivity data from organic thin films at interfaces

Asmussen, A., & Riegler, H. (1996). Numerical analysis of x-ray reflectivity data from organic thin films at interfaces. The Journal of Chemical Physics, 104(20), 8159-8164. doi:10.1063/1.471492.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0015-74C5-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-670C-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

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:
377347.pdf (Verlagsversion), 119KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
377347.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, MTKG; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: INSTITUT
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Asmussen, A., Autor
Riegler, H.1, Autor           
Affiliations:
1Hans Riegler, Grenzflächen, Max Planck Institute of Colloids and Interfaces, Max Planck Society, ou_1863311              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 377347
ISI: A1996UL12500040
DOI: 10.1063/1.471492
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: The Journal of Chemical Physics
  Andere : J. Chem. Phys.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, N.Y. : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 104 (20) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 8159 - 8164 Identifikator: ISSN: 0021-9606
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836226