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  Quantitative defect analysis using electron channeling contrast imaging under controlled diffraction conditions (cECCI)

Elhami, N., Tasan, C. C., & Zaefferer, S. (2012). Quantitative defect analysis using electron channeling contrast imaging under controlled diffraction conditions (cECCI). In J., Shields, S., McKernan, L., Brewer, T., Ruiz, & D., Turnquist (Eds.), Proceedings of M&M 2012 (pp. 690-691). Microscopy Society of America.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DE5-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-3484-9
資料種別: 会議論文

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関連URL

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作成者

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 作成者:
Elhami, N.1, 著者           
Tasan, C. C.2, 著者           
Zaefferer, S.1, 著者           
所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              
2Adaptive Structural Materials (Experiment), Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863382              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2012
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 625675
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Microscopy & Microanalysis 2012
開催地: Phoenix, AZ, USA
開始日・終了日: 2012-07-29 - 2012-08-02

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Proceedings of M&M 2012
種別: 会議論文集
 著者・編者:
Shields, J., 編集者
McKernan, S., 編集者
Brewer, L., 編集者
Ruiz, T., 編集者
Turnquist, D., 編集者
所属:
-
出版社, 出版地: Microscopy Society of America
ページ: CD-ROM 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 690 - 691 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -