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  Orientation microscopy in SEM and TEM: A critical review

Zaefferer, S. (2011). Orientation microscopy in SEM and TEM: A critical review. Crystal Research and Technology, 46, 607-628.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3515-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3517-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, S.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 624796
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Crystal Research and Technology
  Alternativer Titel : Cryst. Res. Technol.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 46 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 607 - 628 Identifikator: -