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  Simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical potential microscopy (SECPM)

Hamou, R. F., Biedermann, P. U., Erbe, A., & Rohwerder, M. (2009). Simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical potential microscopy (SECPM). Talk presented at 11th International Fischer Symposium on Microscopy in Electrochemistry. Benediktbeuern, Germany. 2009-07 - 2009-07.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hamou, R. F.1, Autor           
Biedermann, P. U.2, Autor           
Erbe, A.3, Autor           
Rohwerder, M.1, 4, Autor           
Affiliations:
1Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360              
2Atomistic Modelling, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863350              
3Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358              
4Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 446606
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 11th International Fischer Symposium on Microscopy in Electrochemistry
Veranstaltungsort: Benediktbeuern, Germany
Start-/Enddatum: 2009-07 - 2009-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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