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  Characterization of the microstructure of Al-rich TiAl-alloys by combined TEM imaging techniques

Kelm, K., Irsen, S. H., Quandt, E., Paninski, M., Drevermann, A., Schmitz, G. J., et al. (2007). Characterization of the microstructure of Al-rich TiAl-alloys by combined TEM imaging techniques. Talk presented at 33rd Conference of the DGE Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. Saarbrücken, Germany. 2007-09-02 - 2007-09-07.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kelm, Klemens1, Autor           
Irsen, Stephan H.2, Autor           
Quandt, Eckhard3, Autor           
Paninski, M.4, Autor           
Drevermann, Anne5, Autor           
Schmitz, Georg J.5, Autor           
Palm, Martin6, Autor           
Stein, Frank6, Autor           
Heilmaier, Martin7, Autor           
Engberding, Nico6, Autor           
Saage, Holger7, Autor           
Sturm, Daniel8, Autor           
Affiliations:
1Stiftung caesar, Electron Microscopy, Bonn, Germany, ou_persistent22              
2Research Center Caesar, Ludwig-Erhard-Allee 2, D-53175 Bonn, Germany, ou_persistent22              
3Center of Advanced European Studies and Research (caesar), Ludwig-Erhard-Allee 2, 53175 Bonn, Germany, ou_persistent22              
4ACCESS e.V., Intzestraße 5, D-52072 Aachen, Germany, ou_persistent22              
5ACCESS e.V., D-52072 Aachen, Germany, ou_persistent22              
6Development and Characterisation of New Materials, Materials Technology, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863368              
7Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Institut für Werkstoff- und Fügetechnik, Lehrstuhl Werkstoffprüftechnik, Grobe Steinernetischstrabe 6, Magdeburg, Germany, ou_persistent22              
8Otto-von-Guericke University Magdeburg, Institute for Materials Joining and Technology, D-39104 Magdeburg, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007-09
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 343267
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 33rd Conference of the DGE Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.
Veranstaltungsort: Saarbrücken, Germany
Start-/Enddatum: 2007-09-02 - 2007-09-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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