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  Characterization of the microstructure of Al-rich TiAl alloys by combined TEM imaging techniques

Kelm, K., Irsen, S. H., Paninski, M., Drevermann, A., Schmitz, G. J., Palm, M., et al. (2007). Characterization of the microstructure of Al-rich TiAl alloys by combined TEM imaging techniques. Microscopy and Microanalysis, 13(3), 294-295.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Kelm, Klemens1, Autor           
Irsen, Stephan H.2, Autor           
Paninski, M.3, Autor           
Drevermann, Anne4, Autor           
Schmitz, Georg J.4, Autor           
Palm, Martin5, Autor           
Stein, Frank5, Autor           
Heilmaier, Martin6, Autor           
Engberding, Nico5, Autor           
Saage, Holger6, Autor           
Sturm, Daniel7, Autor           
Affiliations:
1Stiftung caesar, Electron Microscopy, Bonn, Germany, ou_persistent22              
2Research Center Caesar, Ludwig-Erhard-Allee 2, D-53175 Bonn, Germany, ou_persistent22              
3ACCESS e.V., Intzestraße 5, D-52072 Aachen, Germany, ou_persistent22              
4ACCESS e.V., D-52072 Aachen, Germany, ou_persistent22              
5Development and Characterisation of New Materials, Materials Technology, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863368              
6Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Institut für Werkstoff- und Fügetechnik, Lehrstuhl Werkstoffprüftechnik, Grobe Steinernetischstrabe 6, Magdeburg, Germany, ou_persistent22              
7Otto-von-Guericke University Magdeburg, Institute for Materials Joining and Technology, D-39104 Magdeburg, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2007
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 337581
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : Springer-Verlag New York
Seiten: - Band / Heft: 13 (3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 294 - 295 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414