3D-orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure 
characterization

Zaefferer, S.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

一時保存へ追加

3D-orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterization

Zaefferer, S. (2006). 3D-orientation microscopy in a FIB-SEM: A new dimension of microstructure characterization. Talk presented at 13th Conference on Electron Backscatter Diffraction. Oxford, UK. 2006-04-04.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5A10-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-C4EB-8

資料種別: 講演

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

内容説明

表示:

資料詳細

表示:

非表示:

言語: eng - English

日付: 作成: 2006-04-04

出版の状態: 不明

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 292303

学位: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物