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  A correlative EBSD, EBIC and APT study of grain boundary segregation in multicrystalline silicon

Stoffers, A., Cojocaru-Mirédin, O., Seifert, W., Zaefferer, S., & Raabe, D. (2014). A correlative EBSD, EBIC and APT study of grain boundary segregation in multicrystalline silicon. Talk presented at Atom Probe Tomography & Microscopy 2014. Stuttgart, Germany. 2014-08-31 - 2014-09-05.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stoffers, Andreas1, Autor           
Cojocaru-Mirédin, Oana1, Autor           
Seifert, Winfried2, Autor           
Zaefferer, Stefan3, Autor           
Raabe, Dierk4, Autor           
Affiliations:
1Interface Design in Solar Cells, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863387              
2Joint Lab IHP/BTU, Cottbus, Germany, ou_persistent22              
3Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              
4Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Atom Probe Tomography & Microscopy 2014
Veranstaltungsort: Stuttgart, Germany
Start-/Enddatum: 2014-08-31 - 2014-09-05

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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