Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der 
Oberflächenanalyse realer Materialien

Merzlikin, Sergiy Vasil´ović; Grünert, Wolfgang; Strunskus, Thomas; Witte, Gregor; Wachs, Israel E.; Wöll, Christof H.; Tolkachev, Nikolay N.; Tkachenko, O. P.

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Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien

Merzlikin, S. V., Grünert, W., Strunskus, T., Witte, G., Wachs, I. E., Wöll, C. H., et al. (2007). Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. Talk presented at 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007. Weimar, Germany. 2007-03-14 - 2007-03-16.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-0878-B Version Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-087A-7

Genre: Talk

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Creators:
Merzlikin, Sergiy Vasil´ović¹, Author
Grünert, Wolfgang¹, Author
Strunskus, Thomas², Author
Witte, Gregor³, Author
Wachs, Israel E.⁴, Author
Wöll, Christof H.³, Author
Tolkachev, Nikolay N.⁵, Author
Tkachenko, O. P.⁵, Author

Affiliations:
1Lehrstuhl für Technische Chemie, Ruhr-Universität Bochum, Postfach 102148, 44780 Bochum, Germany, ou_persistent22
2Lehrstuhl Physikalische Chemie, Ruhr-Universität, Bochum, Germany, ou_persistent22
3Laboratory of Physical Chemistry I, Ruhr University Bochum, D-44780 Bochum, Germany, ou_persistent22
4Operando Molecular Spectroscopy and Catalysis Laboratory, Department of Chemical Engineering, Lehigh University, Bethlehem, PA 18015, USA, ou_persistent22
5N. D. Zelinsky Institute of Organic Chemistry, Russian Academy of Sciences, Moscow, Russia, ou_persistent22

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Language(s): eng - English

Dates: Created: 2007

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Title: 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007

Place of Event: Weimar, Germany

Start-/End Date: 2007-03-14 - 2007-03-16

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