Merzlikin, S. V., Grünert, W., Strunskus, T., Witte, G., Wachs, I. E., Wöll, C. H., et al. (2007). Quantitative Tiefenprofilierung durch XPS – Ein neuer Ansatz in der Oberflächenanalyse realer Materialien. Talk presented at 49.Jahrestreffen Deutscher Katalytiker, DECHEMA, 2007. Weimar, Germany. 2007-03-14 - 2007-03-16.