Quantitative depth profiling of deuterium up to very large depths

Mayer, M.; Gauthier, E.; Sugiyama, K.; von Toussaint, U.

doi:10.1016/j.nimb.2008.11.033

Quantitative depth profiling of deuterium up to very large depths

Mayer, M., Gauthier, E., Sugiyama, K., & von Toussaint, U. (2009). Quantitative depth profiling of deuterium up to very large depths. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 267(3), 506-512. doi:10.1016/j.nimb.2008.11.033.

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資料種別: 学術論文

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Mayer, M.¹, 著者
Gauthier, E.², 著者
Sugiyama, K.¹, 著者
von Toussaint, U.¹, 著者

所属:
1Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328
2External Organizations, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 376634
DOI: 10.1016/j.nimb.2008.11.033
URI: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2008.11.033

学位: -

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B: Beam Interactions with Materials and Atoms

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Elsevier B. V.

ページ: - 巻号: 267 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 506 - 512 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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