Ion beam analysis of oxidised a-C:D layers on Be - A comparison of 4He RBS and 
28Si ERD analysis

Roth, J.; Walsh, D. S.; Wampler, W. R.; Mayer, M.

doi:10.1016/S0168-583X(97)00774-X

Ion beam analysis of oxidised a-C:D layers on Be - A comparison of ⁴He RBS and ²⁸Si ERD analysis

Roth, J., Walsh, D. S., Wampler, W. R., & Mayer, M. (1998). Ion beam analysis of oxidised a-C:D layers on Be - A comparison of ⁴He RBS and ²⁸Si ERD analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 136-138, 689-694. doi:10.1016/S0168-583X(97)00774-X.

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資料種別: 学術論文

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Roth, J.¹, 著者
Walsh, D. S.², 著者
Wampler, W. R.², 著者
Mayer, M.¹, 著者

所属:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288
2Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM 87185, USA, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: 13th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-13), Lisbon, 1997-07-27 to 1997-08-01

要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 出版: 1998

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 627877
DOI: 10.1016/S0168-583X(97)00774-X
URI: http://dx.doi.org/10.1016/S0168-583X(97)00774-X

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

種別: 学術雑誌

著者・編者:

所属:

出版社, 出版地: Elsevier B.V.

ページ: - 巻号: 136-138 通巻号: - 開始・終了ページ: 689 - 694 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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