Quantitative Microstructure Characterization by Application of Advanced 
SEM-Based Electron Diffraction Techniques

Zaefferer, Stefan; Elhami, Nahid Nora; Konijnenberg, Peter Joachim; Jäpel, Tom

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Quantitative Microstructure Characterization by Application of Advanced SEM-Based Electron Diffraction Techniques

Zaefferer, S., Elhami, N. N., Konijnenberg, P. J., & Jäpel, T. (2013). Quantitative Microstructure Characterization by Application of Advanced SEM-Based Electron Diffraction Techniques. Talk presented at Microscopy and Microanalysis 2013. Indianapolis, IN, USA. 2013-08-04 - 2013-08-08.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-4191-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-4192-B

資料種別: 講演

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Zaefferer, Stefan¹, 著者
Elhami, Nahid Nora¹, 著者
Konijnenberg, Peter Joachim¹, 著者
Jäpel, Tom¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2013-08

出版の状態: 不明

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