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  Ion Scattering and Secondary Ion Mass Spectroscopy

Heiland, W., Park, R., Taglauer, E., & Lagally, M. (1985). Ion Scattering and Secondary Ion Mass Spectroscopy. In Methods of Experimental Physics (pp. 299). Academic Press.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A39F-8 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A3A0-2
資料種別: 書籍の一部

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作成者

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 作成者:
Heiland, W.1, 著者           
Park, R.L.2, 著者
Taglauer, E.3, 著者           
Lagally, M.2, 著者
所属:
1Experimental Plasma Physics 2 (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856292              
2External Organizations, ou_persistent22              
3Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 1985
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: -
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Methods of Experimental Physics
種別: 書籍
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Academic Press
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 299 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -