Ion Scattering and Secondary Ion Mass Spectroscopy

Heiland, W.; Park, R.L.; Taglauer, E.; Lagally, M.

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Ion Scattering and Secondary Ion Mass Spectroscopy

MPS-Authors

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Heiland, W.
Experimental Plasma Physics 2 (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

/persons/resource/persons110618

Taglauer, E.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

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引用

Heiland, W., Park, R., Taglauer, E., & Lagally, M. (1985). Ion Scattering and Secondary Ion Mass Spectroscopy. In Methods of Experimental Physics (pp. 299). Academic Press.

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A39F-8

要旨

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