Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering

Taglauer, E.; LeLay, G.; Derrien, J.; Boccara, N.

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Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering

Taglauer, E., LeLay, G., Derrien, J., & Boccara, N. (1987). Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering. In Semiconductor Interfaces: Formation and Properties (pp. 150-159).

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C005-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C006-7

資料種別: 書籍の一部

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Taglauer, E.¹, 著者
LeLay, G.², 著者
Derrien, J.², 著者
Boccara, N.², 著者

所属:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288
2External Organizations, ou_persistent22

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日付: 出版: 1987

出版の状態: 出版

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出版物名: Semiconductor Interfaces: Formation and Properties

種別: 書籍

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ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 150 - 159 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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