Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering

Taglauer, E.; LeLay, G.; Derrien, J.; Boccara, N.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

一時保存へ追加

タグ情報を表示リリース履歴を表示詳細要約

公開

書籍の一部

Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering

MPS-Authors

/persons/resource/persons110618

Taglauer, E.
Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society;

External Resource

There are no locators available

Fulltext (restricted access)

There are currently no full texts shared for your IP range.

フルテキスト (公開)

公開されているフルテキストはありません

付随資料 (公開)

There is no public supplementary material available

引用

Taglauer, E., LeLay, G., Derrien, J., & Boccara, N. (1987). Surface Characterization by Low-Energy Ion Scattering. In Semiconductor Interfaces: Formation and Properties (pp. 150-159).

引用: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C005-9

要旨

要旨はありません