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  Maintaining strength in supersaturated copper–chromium thin films annealed at 0.5 of the melting temperature of Cu

Raghavan, R., Harzer, T. P., Djaziri, S., Hieke, S. W., Kirchlechner, C., & Dehm, G. (2017). Maintaining strength in supersaturated copper–chromium thin films annealed at 0.5 of the melting temperature of Cu. Journal of Materials Science, 52(2), 913-920. doi: 10.1007/s10853-016-0386-6.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Raghavan, Rejin1, Autor           
Harzer, Tristan Philipp2, Autor           
Djaziri, Soundès2, Autor           
Hieke, Stefan Werner2, Autor           
Kirchlechner, Christoph3, Autor           
Dehm, Gerhard4, Autor           
Affiliations:
1Synthesis of Nanostructured Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863403              
2Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
3Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
4Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-09-152017-01
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1007/s10853-016-0386-6
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Materials Science
  Kurztitel : JMS
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 52 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 913 - 920 Identifikator: ISSN: 0022-2461
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925415936_1