Newly developed heavy-duty stage for high resoluti on imaging and analysis of 
10 kg-samples in a scanning electron microscope with focused ion beam

Elgeti, S.; Balden, M.; Neu, R.

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Newly developed heavy-duty stage for high resoluti on imaging and analysis of 10 kg-samples in a scanning electron microscope with focused ion beam

Elgeti, S., Balden, M., & Neu, R. (2017). Newly developed heavy-duty stage for high resoluti on imaging and analysis of 10 kg-samples in a scanning electron microscope with focused ion beam. Poster presented at Microscopy Conference 2017 (MC 2017), Lausanne.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-F765-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-F766-E

資料種別: ポスター

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Elgeti, S.¹, 著者
Balden, M.¹, 著者
Neu, R.¹, 著者

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1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2017

出版の状態: 投稿済み

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