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  Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001): an in-situ spectro-microscopy study

Klemm, H. (2018). Formation and properties of ultrathin silicon dioxide films on Ru(0001): an in-situ spectro-microscopy study. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-C1D3-7 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-C1D4-6
Genre: Hochschulschrift

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:
klemm_hagen.pdf (beliebiger Volltext), 42MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-C1D5-5
Name:
klemm_hagen.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
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Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Klemm, Hagen1, Autor           
Freund, Hans-Joachim1, Gutachter           
Behrendt, Frank, Gutachter
Affiliations:
1Chemical Physics, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_24022              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2018-01-05
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 171
 Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Technische Universität
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: URI: http://dx.doi.org/10.14279/depositonce-6705
URI: https://depositonce.tu-berlin.de//handle/11303/7482 10.14279/depositonce-6705
 Art des Abschluß: Doktorarbeit

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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