Scanning electron microscopy capabilities for sequential testing and analyses 
of full-size PFC components of AUG

Balden, M.; Elgeti, S.; Neu, R.; Greuner, H.; Herrmann, A.; Krieger, K.; Rohde, V.; Zammuto, I.; ASDEX Upgrade Team, Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society

Scanning electron microscopy capabilities for sequential testing and analyses of full-size PFC components of AUG

Balden, M., Elgeti, S., Neu, R., Greuner, H., Herrmann, A., Krieger, K., Rohde, V., Zammuto, I., & ASDEX Upgrade Team, Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society (2018). Scanning electron microscopy capabilities for sequential testing and analyses of full-size PFC components of AUG. Poster presented at 23rd International Conference on Plasma Surface Interactions in Controlled Fusion Devices (PSI 23), Princeton, NJ.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-7003-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-7004-C

資料種別: ポスター

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Balden, M.¹, 著者
Elgeti, S.¹, 著者
Neu, R.^{1, 2}, 著者
Greuner, H.¹, 著者
Herrmann, A.³, 著者
Krieger, K.¹, 著者
Rohde, V.¹, 著者
Zammuto, I.³, 著者
ASDEX Upgrade Team, Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, 著者

所属:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327
2External Organizations, ou_persistent22
3Tokamak Scenario Development (E1), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856321

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言語: eng - English

日付: 投稿: 2017

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