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  In-situ transmission electron microscopy study of dislocations in a polycrystalline Cu thin film constrained by a substrate

Dehm, G., & Arzt, E. (2000). In-situ transmission electron microscopy study of dislocations in a polycrystalline Cu thin film constrained by a substrate. Applied Physics Letters, 77(8), 1126-1128. doi:10.1063/1.1289488.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-966E-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-966F-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Arzt, Eduard1, Autor           
Affiliations:
1Former Dept. Micro/Nanomechanics of Thin Films and Biological Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497655              

Inhalt

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Schlagwörter: MPI für Metallforschung; Abt. Arzt;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2000-08-21
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 43723
DOI: 10.1063/1.1289488
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 77 (8) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1126 - 1128 Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223