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  An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography

Peng, Z., Lu, Y., Hatzoglou, C., Kwiatkowski da Silva, A., Vurpillot, F., Ponge, D., et al. (2019). An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography. Microscopy and Microanalysis, 25(2), 389-400. doi:10.1017/S1431927618016112.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-6530-4 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0004-6532-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Peng, Zirong1, Autor           
Lu, Yifeng2, Autor           
Hatzoglou, Constantinos3, Autor           
Kwiatkowski da Silva, Alisson1, Autor           
Vurpillot, François3, Autor           
Ponge, Dirk1, Autor           
Raabe, Dierk1, Autor           
Gault, Baptiste1, Autor           
Affiliations:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
2Institute for Informatics, Ludwig-Maximilians-Universität München, OettingenStr. 67, 80538 Munich, Germany, ou_persistent22              
3Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, GPM, 76000 Rouen, France, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2019
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927618016112
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 25 (2) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 389 - 400 Identifikator: -