Detection of trace impurities and other defects in functional nanomaterials

Lim, Joohyun; Kim, Se-Ho; Sahu, Rajib; Aymerich Armengol, Raquel; Kasian, Olga; Choi, Pyuck-Pa; Stephenson, Leigh; Gault, Baptiste; Scheu, Christina

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Detection of trace impurities and other defects in functional nanomaterials

Lim, J., Kim, S.-H., Sahu, R., Aymerich Armengol, R., Kasian, O., Choi, P.-P., Stephenson, L., Gault, B., & Scheu, C. (2019). Detection of trace impurities and other defects in functional nanomaterials. Talk presented at International Workshop on Advanced and In-situ Microscopies of Functional Nanomaterials and Devices, IAMNano 2019. Düsseldorf, Germany. 2019-10-27 - 2019-10-30.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-469D-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0005-46B2-3

資料種別: 講演

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Lim, Joohyun¹, 著者
Kim, Se-Ho², 著者
Sahu, Rajib¹, 著者
Aymerich Armengol, Raquel¹, 著者
Kasian, Olga³, 著者
Choi, Pyuck-Pa⁴, 著者
Stephenson, Leigh², 著者
Gault, Baptiste², 著者
Scheu, Christina¹, 著者

所属:
1Nanoanalytics and Interfaces, Independent Max Planck Research Groups, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_2054294
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
3Electrocatalysis, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863354
4Department of Materials Science and Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon 34141, Korea, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: 作成: 2019-10

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